Nieuw succes voor AFM-microscopie

Met het nieuwste model ‘atomic force’-microscoop is het mogelijk om de toevoeging van één elektron aan één goud- of zilveratoom te registreren. Dat schrijven onderzoekers van IBM in Zwitserland, de universiteit van Regensburg (Duitsland) en de Universiteit Utrecht deze week in Science.

De onderzoekers voorzagen een kopersubstraat van een ultradun laagje NaCl. Daaraan lieten ze losse goud- of zilveratomen adsorberen. Vervolgens tastten ze de atomen bij 5 K (-268 graden Celsius) af met de AFM-naald.

Wanneer een goudatoom werd voorzien van één extra elektron, en de AFM-naald er 4,8 Angstrom boven hing, bleek de kracht op die naald ongeveer 11 piconewton groter te worden. Bij 6 Angstrom was het verschil nog 2 piconewton. De AFM bleek dit met een resolutie van minder dan 1 piconewton te kunnen meten.

Met een STM-microscoop zijn zulke ladingsmetingen al eerder gelukt. Maar die methode kan niet overweg met een isolerend substraat.

bron: Science